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吉時利發(fā)布新型低電流測量數(shù)字源表keithley2635和2636
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吉時利發(fā)布新型低電流測量數(shù)字源表keithley2635和2636
美國俄亥俄州克利夫蘭市2007年9月17日訊——新興測量需求解決方案的吉時利儀器公司（NYSE:KEI），今日發(fā)布了其2600系列SourceMeter® 數(shù)字源表的兩款新產(chǎn)品2635和2636，自此形成業(yè)界技術(shù)、效費(fèi)比zui高的半導(dǎo)體參數(shù)分析與測試解決方案。2635和2636采用特殊參數(shù)分析技術(shù)，實現(xiàn)了高達(dá)1fa（10-15安）的測量分辨率，從而滿足了很多半導(dǎo)體、光電和納米器件的測試需求。此外，其基于儀器的多通道架構(gòu)相比普通的基于主機(jī)的源測量方案降低了50%的成本。通過其測試腳本處理器（TSP™）和TSP-Link™互連通信總線，測試工程師可利用2636和2635快速構(gòu)建用于技術(shù)研究、特征分析、圓片分揀、可靠性測試、生產(chǎn)監(jiān)測等多種測試應(yīng)用場合的高速測試系統(tǒng)。
2635和2636能夠?qū)崿F(xiàn)從飛安和微伏量級到200V/1.范圍的費(fèi)比直流和脈沖測試。它們可以配合PC機(jī)或獨(dú)立工作，測試速度比普通基于主機(jī)的源測量方案快四倍。此外，每種儀器內(nèi)置一個類似于PC的微處理器，支持各種簡單或復(fù)雜的測試程序（腳本）的編程與獨(dú)立執(zhí)行，包括提供信號源、測量、測試序列流程控制以及帶條件程序分支的判斷操作等。2635和2636極易與其他儀器集成構(gòu)成自動測試系統(tǒng)，因此對于從事圓片級測試和封裝器件測試工作的元件制造商和半導(dǎo)體廠商都吸引力。同時，對于需要快速、方便地進(jìn)行器件與材料I-V特征分析的各領(lǐng)域研究人員和學(xué)者而言，其低成本優(yōu)勢十分誘人。
zui廉價的易擴(kuò)展性
對于較小和中等引腳個數(shù)的器件，或者多器件和材料樣本的測試，2635和2636能夠大大降低用戶的測試成本。它們將五種精密測量儀器的功能集于一身：SMU（源測量單元）、DMM（數(shù)字萬用表）、偏壓源、低頻脈沖發(fā)生器和任意波形發(fā)生器。所有功能都受控于TSP，從而支持在儀器內(nèi)下載與執(zhí)行*可編程的測試序列。這在增大測試產(chǎn)能的同時降低了通信與PC開銷，*具備滿足不同測試環(huán)境需求的控制靈活性。
除了支持TSP功能外，吉時利的TSP-Link主/從連接功能還提供了一種高速、低延遲的接口，以便和其他基于TSP的儀器相互連接，實現(xiàn)簡單的單臺和多臺儀器軟件控制架構(gòu)。2600系列測試系統(tǒng)一個主要優(yōu)勢在于能夠根據(jù)當(dāng)前和今后的測試需求為用戶提供方便的可擴(kuò)展性。在無需主機(jī)的情況下，多個單通道（2635）單元和雙通道（2636）單元實現(xiàn)無縫集成。該種無需主機(jī)的擴(kuò)展性能夠?qū)崿F(xiàn)每GPIB地址32個通道的系統(tǒng)規(guī)模，同時將新增通道所需的成本、機(jī)架空間和時間降至zui低限度。通過選用2600系列產(chǎn)品，用戶可以利用兩到三個經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)校驗的SMU模型對多種應(yīng)用領(lǐng)域的10A脈沖或者3A直流電流進(jìn)行測試。用戶只需修改SMU執(zhí)行的測試腳本，就可重新定位SMU功能。
更短的測試時間
吉時利所有基于TSP功能的系統(tǒng)皆能存儲并執(zhí)行大量預(yù)定義的器件測試腳本，包括界限比較、PASS/FAIL判斷、元件分揀等。無論是否有PC機(jī)的配合，都能夠獨(dú)立完成測試工作。此外，其數(shù)字I/O端口可以直接控制探測器、機(jī)械手和其他儀器，而TSP-Link功能還允許用戶在多個通道和儀器上執(zhí)行高速的自動化測試操作并避免GPIB通信開銷。相比早期的定序式測試儀，測試時間減少了10倍，在元件測試方面的測試時間通常都降低了2到4倍。
2635和2636與吉時利新推出的3700系列系統(tǒng)開關(guān)/萬用表（也具有TSP和TSP-Link功能）結(jié)合使用時，能支持范圍更廣的高速應(yīng)用。同時，這兩個產(chǎn)品系列提供了基本的功能模塊，能夠?qū)崿F(xiàn)緊密集成的高性能開關(guān)和多通道I-V測量系統(tǒng)。測試工程師使用這些產(chǎn)品可非常方便地構(gòu)建出針對高產(chǎn)能測試優(yōu)化的低成本ATE系統(tǒng)，例如半導(dǎo)體強(qiáng)度測試和封裝器件的功能測試。
輕松的系統(tǒng)開發(fā)
歷*，為初級研發(fā)和高速產(chǎn)品測試工作而開發(fā)多儀器特征分析系統(tǒng)或ATE系統(tǒng)曾是一大挑戰(zhàn)。吉時利通過兩個免費(fèi)的軟件工具解決了這一問題，大大簡化了2600系列數(shù)字源表的系統(tǒng)集成。對于研發(fā)和曲線繪圖等應(yīng)用，吉時利LabTracer™ 2.0軟件能夠控制多達(dá)8個數(shù)字源表通道，無論編程與否皆能執(zhí)行器件特征分析操作。利用這種軟件，用戶可非常方便、輕松地配置每個通道，測試器件參數(shù)，繪制測試數(shù)據(jù)曲線。
對于高速生產(chǎn)測試的應(yīng)用場合，用戶可使用一種簡單的類似于BASIC風(fēng)格的編程語言對測試腳本處理器進(jìn)行編程，所編寫的腳本能在儀器上實時運(yùn)行。其直觀而易于使用的界面兼容所有流行的編程語言。吉時利為信號掃描、脈沖發(fā)生、波形生成和常見的元件測試提供內(nèi)嵌測試腳本。測試儀器中包含大量測試腳本，其他一些腳本可從吉時利*http://www.keithley.com/上免費(fèi)下載。為用戶預(yù)先編寫的測試腳本可直接使用，或經(jīng)由用戶裁剪后使用，從而幫助生產(chǎn)用戶有效提高測試系統(tǒng)的執(zhí)行速度。
用戶還可通過其他方式開發(fā)自定義的測試腳本，包括Test Script Builder的免費(fèi)編程工具，用戶能使用它提供的簡單命令語言創(chuàng)建、修改、調(diào)試和保存TSP腳本。用戶腳本能從PC機(jī)上下載到主數(shù)字源表中，存儲在它的非易失性存儲器內(nèi)。該存儲器具有16MB容量，可存儲50000行TSP代碼和100000個讀數(shù)。研究表明，利用TSP及其相關(guān)軟件，相比前幾代定序式測試儀器，用戶的系統(tǒng)開發(fā)時間降低了50%到75%。
吉時利2600系列儀器的優(yōu)勢還體現(xiàn)在由其ACS（自動特征分析套件）驅(qū)動的總控集成測試系統(tǒng)上。2600系列儀器支持?jǐn)?shù)量可擴(kuò)展的源-測量通道以及各種半導(dǎo)體應(yīng)用的高速測試，包括圓片級可靠性分析、圓片上參數(shù)化管芯分揀和自動化特征分析。例如，需要*測量速度的測量任務(wù)（例如動態(tài)NBTI）可以順序執(zhí)行，或者與器件級、圓片級或圓片盒一級的測試規(guī)劃并行執(zhí)行。ACS所*的靈活性以及用戶友好性實現(xiàn)了系統(tǒng)儀器的*控制，提供了強(qiáng)大的圓片描述工具，支持半自動和全自動的探測器控制功能，提高了測試過程的自動化，并對測試結(jié)果進(jìn)行深入分析。ACS利用2600系列的靈活性，為用戶提供了吉時利所*的自動測試系統(tǒng)。
關(guān)于吉時利儀器公司
美國吉時利儀器公司擁有60年的測試和測量的豐富經(jīng)驗，已經(jīng)成為涵蓋從DC（直流）到RF（射頻）先進(jìn)的電子測量儀器和系統(tǒng)的行業(yè)。專為電子制造業(yè)對高性能的生產(chǎn)測試、工藝監(jiān)控、產(chǎn)品的研究與開發(fā)方面的特殊需要與挑戰(zhàn)，提供的解決方案。憑藉在電子測試研發(fā)領(lǐng)域的優(yōu)勢，吉時利儀器公司已經(jīng)成為一個在半導(dǎo)體、無線通訊、光電器件和其它精密電子測量領(lǐng)域*的測試技術(shù)。吉時利儀器公司對客戶的核心價值在于：將先進(jìn)的精密測量技術(shù)與深入了解客戶應(yīng)用有機(jī)結(jié)合，從而幫助客戶提高產(chǎn)品質(zhì)量、產(chǎn)能與產(chǎn)量。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗箱
- 美國BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學(xué)測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設(shè)備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測試
- 永磁軟磁磁通量測試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
- ARC電池絕熱量熱儀/熱安全性能
- 德國GMC-I高美
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